罗姆: 过零检测IC: BM1ZxxxFJ-EVK
“BM1ZxxxFJ系列”是能够实现过零检测的IC。由于无需光耦就可以进行过零检测，因此功耗极低，可将正常通电时的过零检测电路的待机功耗降至0.01W。另外，在驱动应用时，将以往使用光耦的过零检测电路中随AC电压变化而波动的延迟时间误差降至±50µs以内。极低的待机功耗和极小的延迟时间误差，使得即使在各国不同的AC电源电压下，也可高效地驱动电机，成功实现了以往的过零检测电路很难实现的高精度微控制器驱动。而且，由于不再需要光耦，还可以降低经年老化的风险，有助于提高产品的可靠性
特点:
1. 无光耦的过零检测电路，有助于大幅度地降低应用的待机功耗
传统的过零检测电路由光耦和晶体管组成，其待机功耗约占整个应用的待机功耗的1/2。此次，ROHM通过分析全球数百种电源模式和应用环境，成功开发出无光耦的过零检测IC。不仅可削减部件数量，还使过零检测电路的待机功耗无限接近零（仅0.01W）。不仅如此，在电机应用中，还可省掉电机输入电压检测电路，从而可进一步减少待机功耗和部件数量。
2. 有助于提高各国白色家电的可靠性和效率
在使用光耦的情况下，随着时间的推移亮度会降低，性能会下降，从而有发生故障的风险。此次的新产品无需光耦，因此不仅可降低故障风险，还可将AC电压带来的延迟时间误差降至±50μs以内。在这样的前提下，即使各国的电源电压（100～230V）标准不同，也可有效地驱动电机，成功实现了以往在过零检测电路方面难以实现的高精度微控制器驱动。
3. 可轻松替换以往的过零检测电路
BM1ZxxxFJ系列阵容强大，可分别对应以往的过零检测电路中使用的电路（普通整流/倍压整流）和波形（Pulse/Edge）。因此，无需更改软件即可轻松替换使用光耦的现有过零检测电路。
4. 具有“电压钳位功能”，可保护后段的微控制器
BM1ZxxxFJ支持的输入电压高达600V，并且通过在输出时分压至微控制器的额定电压以下的方式，可驱动最大额定电压为5V的常规微控制器。另外，还配备了“电压钳位功能”，可防止电压超过4.8V，在输入电压较高时可以保护微控制器。因此，适用于使用以空调等为对象的高压驱动电机的应用，即使出现异常电压，也能够做到对微控制器的保护。
评估板信息
下面的过零检测IC评估板配备了用来驱动过零检测IC的电源，可轻松进行元器件评估。使用该评估板，可非常方便地对使用光耦的现有电路的替换问题进行讨论评估。
评估板型号 所搭载IC品名 功能概要 技术资料
BM1Z002FJ-EVK-001 BM1Z002FJ AC过零检测电路（非隔离型）
BM1Z002FJ-EVK-002 BM1Z002FJ AC过零检测电路（隔离型）
BM1Z102FJ-EVK-001 BM1Z102FJ AC过零检测电路＋DC电压监控器（非隔离型）
Board picture
伍尔特电子 (Würth Elektronik) 的组件：
WCAP-ATG5 Aluminum Electrolytic Capacitors